x射線雙晶衍射搖擺曲線

國標(biāo)（北京）檢驗認(rèn)證有限公司，針對單晶基片及其完美性分析或點陣失配外延層薄膜（晶體完整性和異質(zhì)外延結(jié)構(gòu)），通過高分辨x射線衍射測量（x射線雙晶衍射搖擺曲線）提供微結(jié)構(gòu)、微成分和微缺陷等方面的大量信息。

 

國標(biāo)（北京）檢驗認(rèn)證有限公司，是中國權(quán)威的第三方金屬檢測機構(gòu)，實驗室通過iso 17025國家實驗室認(rèn)可（cnas），中國計量認(rèn)證（cma），國際航空材料認(rèn)證（nadcap），為客戶提供科學(xué)的產(chǎn)品檢測、評價方案，滿足進(jìn)出口及工程檢測等各種需求。  

 

關(guān)鍵詞：繪制衍射圖譜，物相定性分析，物相定量分析，極圖測定，宏觀應(yīng)力測試，宏觀應(yīng)力檢測，宏觀應(yīng)力分析，微觀應(yīng)力分析，微觀應(yīng)力檢測，微觀應(yīng)力測試，織構(gòu)分析，晶粒度測試，點陣常數(shù)測定，點陣常數(shù)測試，點陣常數(shù)檢測，晶體取向分析，殘余應(yīng)力測試，殘余應(yīng)力分析，殘余應(yīng)力檢測。

 

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